Journal
/
/
Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
DOI:

10:53 min

July 30, 2013

, , , , ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Summary

Automatic Translation

Сканирующего зонда одноэлектронными емкостной спектроскопии облегчает изучение одного движения электронов в локализованных подземных регионах. Чувствительный заряда схема обнаружения включена в криогенных сканирующий зондовый микроскоп для исследования небольших системах атомов легирующей примеси под поверхностью полупроводникового образцов.

Related Videos

Read Article