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स्कैनिंग जांच एकल इलेक्ट्रॉन समाई स्पेक्ट्रोस्कोपी
 
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स्कैनिंग जांच एकल इलेक्ट्रॉन समाई स्पेक्ट्रोस्कोपी

Article DOI: 10.3791/50676-v 10:53 min July 30th, 2013
July 30th, 2013

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स्कैनिंग जांच एकल इलेक्ट्रॉन समाई स्पेक्ट्रोस्कोपी स्थानीयकृत उपसतह क्षेत्रों में एकल इलेक्ट्रॉन प्रस्ताव के अध्ययन की सुविधा. एक संवेदनशील आरोप पता लगाने सर्किट अर्धचालक नमूने की सतह के नीचे dopant परमाणुओं के छोटे प्रणालियों की जांच के लिए एक क्रायोजेनिक जांच स्कैनिंग माइक्रोस्कोप में शामिल किया है.

Tags

भौतिकी अंक 77 बायोफिज़िक्स आण्विक जीवविज्ञान सेलुलर जीवविज्ञान माइक्रोस्कोपी स्कैन जांच नैनो भौतिकी इलेक्ट्रॉनिक्स स्वीकारकर्ताओं (ठोस राज्य) दाताओं (ठोस राज्य) ठोस अवस्था भौतिकी टनलिंग सूक्ष्मदर्शी स्कैनिंग समाई माइक्रोस्कोपी उपसतह आरोप संचय इमेजिंग समाई स्पेक्ट्रोस्कोपी स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोपी एकल इलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी इमेजिंग
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