JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Skanning-probe single-elektron kapasitans spektroskopi forenkler studie av single-elektron bevegelse i lokaliserte undergrunnsområder. En sensitiv påvisning lade-krets er innlemmet i en kryogen scanning mikroskop probe for å undersøke små systemer av dopant atomer under overflaten av halvleder-prøver.