Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 2 minutes.

Kvantifisering av hydrogen Konsentrasjonene i overflate og Interface Layers og bulk materialer gjennom Dybde Profilering med Nuclear Reaction Analysis
 
Click here for the English version

Kvantifisering av hydrogen Konsentrasjonene i overflate og Interface Layers og bulk materialer gjennom Dybde Profilering med Nuclear Reaction Analysis

Article DOI: 10.3791/53452
March 29th, 2016

Chapters

Summary March 29th, 2016

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Vi illustrerer anvendelse av en H (15 N, αγ) 12 C resonanskjernereaksjon analyse (NRA) for å kvantitativt vurdere densiteten av hydrogenatomene på overflaten, i volum, og ved et grensesjikt av faste materialer. Nær overflaten hydrogen dyp profilering av en Pd (110) enkelt krystall og av SiO2 / Si (100) som stabler, er beskrevet.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter