Vi illustrerer anvendelse av en H (15 N, αγ) 12 C resonanskjernereaksjon analyse (NRA) for å kvantitativt vurdere densiteten av hydrogenatomene på overflaten, i volum, og ved et grensesjikt av faste materialer. Nær overflaten hydrogen dyp profilering av en Pd (110) enkelt krystall og av SiO2 / Si (100) som stabler, er beskrevet.