Medidas de largo alcance correlaciones electrónicas durante los experimentos de difracción de femtosegundo realizadas en nanocristales de buckminsterfullereno

Se describe un experimento diseñado para probar los daños electrónicos en nanocristales de buckminsterfullereno (C₆₀) por intenso, femtosecond pulsos de rayos x. El experimento encontró que, sorprendentemente, en lugar de ser estocásticos, los rayos x inducida por electrónica dinámica en C₆₀ está altamente correlacionada, extendiéndose sobre cientos de células de la unidad dentro de los cristales¹.