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Mesures du courant induit par faisceau x pour la microscopie multimodale de rayons X des cellules solaires
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X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells
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Mesures du courant induit par faisceau x pour la microscopie multimodale de rayons X des cellules solaires

DOI:
10.3791/60001-v

•

00:10 min

•

August 20, 2019

•

, , , , , ,
1Deutsches Elektronen-Synchrotron, 2School of Electrical, Computer and Energy Engineering,Arizona State University, 3Department Physik,Universität Hamburg

Chapters

  • 00:04Title
  • 01:12Measurement Environment Set-up
  • 03:07Pre-amplifier Setup
  • 04:13Lock-in Amplifier Setup
  • 05:36XBIC Measurements
  • 06:54Results: Lock-in Amplification Improves XBIC Measurements
  • 08:48Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Une configuration pour les mesures de courant induites par le faisceau de rayons X aux lignes de faisceau synchrotron est décrite. Il dévoile les performances nanométriques des cellules solaires et étend la suite de techniques de microscopie multimodale aux rayons X. Du câblage à l'optimisation du signal au bruit, il est montré comment effectuer des mesures XBIC de pointe à une micro-sonde à rayons X dur.

Tags

X-ray Beam Induced Current (XBIC)Multi-modal X-ray MicroscopySolar CellsCharge Collection EfficiencySemiconductor DevicesSample HolderPrinted Circuit BoardSpatial ResolutionGroundingBeam Footprint

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