Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Kriyo-Odaklı İyon Işını Frezelemeyi Taramalı…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
Kriyo-Odaklı İyon Işını Frezelemeyi Taramalı Elektron Mikroskobu ve Spektroskopi ile Birleştirerek Sıvı-Katı Arayüzlerinin Nano Ölçekli Karakterizasyonu
Evaluating the Electrochemical Properties of Supercapacitors using the Three-Electrode System
Journal (Engineering)
Evaluating the Electrochemical Properties of Supercapacitors using the Three-Electrode System
Spatial Separation of Molecular Conformers and Clusters
Journal (Engineering)
Spatial Separation of Molecular Conformers and Clusters
 
Click here for the English version

Kriyo-Odaklı İyon Işını Frezelemeyi Taramalı Elektron Mikroskobu ve Spektroskopi ile Birleştirerek Sıvı-Katı Arayüzlerinin Nano Ölçekli Karakterizasyonu

Article DOI: 10.3791/61955-v • 11:03 min • July 14th, 2022
July 14th, 2022 •
1, 1, 1,2
1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Kriyojenik Odaklı İyon Işını (FIB) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) teknikleri, bozulmamış katı-sıvı arayüzlerinin kimyası ve morfolojisi hakkında önemli bilgiler sağlayabilir. Bu tür arayüzlerin yüksek kaliteli Enerji Dağıtıcı X-ışını (EDX) spektroskopik haritalarını hazırlama yöntemleri, enerji depolama cihazlarına odaklanarak detaylandırılmıştır.

Tags

Mühendislik Sayı 185 kriyojenik FIB kriyojenik SEM enerji dağıtıcı x-ışını spektroskopisi katı-sıvı arayüzleri enerji depolama cihazları
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter