A microscopia de força da sonda Kelvin (KPFM) mede a topografia de superfície e as diferenças no potencial de superfície, enquanto a microscopia eletrônica de varredura (MEV) e as espectroscopias associadas podem elucidar a morfologia, composição, cristalinidade e orientação cristalográfica da superfície. Assim, a co-localização do MEV com o KPFM pode fornecer informações sobre os efeitos da composição em nanoescala e da estrutura da superfície na corrosão.