Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Gofret Ölçekli Test İstasyonunda SiN Entegre…
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

JoVE Journal Engineering
Gofret Ölçekli Test İstasyonunda SiN Entegre Optik Fazlı Dizilerin Karakterizasyonu
Atomic Force Microscopy of Red-Light Photoreceptors Using PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping
Journal (Engineering)
Atomic Force Microscopy of Red-Light Photoreceptors Using PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping
Production of Single Tracks of Ti-6Al-4V by Directed Energy Deposition to Determine the Layer Thickness for Multilayer Deposition
Journal (Engineering)
Production of Single Tracks of Ti-6Al-4V by Directed Energy Deposition to Determine the Layer Thickness for Multilayer Deposition
 
Click here for the English version

Gofret Ölçekli Test İstasyonunda SiN Entegre Optik Fazlı Dizilerin Karakterizasyonu

Article DOI: 10.3791/60269-v • 05:57 min • April 1st, 2020
April 1st, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 1
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Burada optik fazlı diziler içeren bir SiN entegre fotonik devrenin çalışmasını anlatıyoruz. Devreler yakın kızılötesi düşük sapma lazer ışınları yontmak ve iki boyutlu yönlendirmek için kullanılır.

Tags

Mühendislik Sayı 158 Optik fazlı diziler entegre fotonikler SiN silikon fotonik Kiriş direksiyon LIDAR iki boyutlu tek dalga boyu
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter