Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Chemistry

A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 2 minutes.

Зондирование поверхностной электрохимической активности наноматериалов с помощью гибридного атомно-силового микроскопа-сканирующего электрохимического микроскопа (AFM-SECM)
 
Click here for the English version

Зондирование поверхностной электрохимической активности наноматериалов с помощью гибридного атомно-силового микроскопа-сканирующего электрохимического микроскопа (AFM-SECM)

Article DOI: 10.3791/61111-v
February 10th, 2021

Chapters

Summary February 10th, 2021

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) в сочетании со сканирующей электрохимической микроскопией (ТСЭМ), а именно АСМ-ТСЭМ, может использоваться для одновременного получения топографической и электрохимической информации высокого разрешения на поверхностях материалов на наноуровне. Такая информация имеет решающее значение для понимания гетерогенных свойств (например, реакционной способности, дефектов и мест реакций) на локальных поверхностях наноматериалов, электродов и биоматериалов.

Transcript

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter