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हाइब्रिड एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप-स्कैनिंग इलेक्ट्रोकेमिकल माइक्रोस्कोप (एएफएम-एसईसीएम) का उपयोग करके नैनोमैटेरियल्स की सतह इलेक्ट्रोकेमिकल गतिविधि की जांच करना
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Chemistry
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Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
DOI:

08:31 min

February 10, 2021

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Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

Automatic Translation

परमाणु बल माइक्रोस्कोपी (एएफएम) स्कैनिंग इलेक्ट्रोकेमिकल माइक्रोस्कोपी (एसईसीएम) के साथ संयुक्त, अर्थात्, एएफएम-एसईसीएम, एक साथ नैनोस्केल पर सामग्री सतहों पर उच्च संकल्प स्थलाकृतिक और इलेक्ट्रोकेमिकल जानकारी प्राप्त करने के लिए इस्तेमाल किया जा सकता है । नैनोमैटेरियल्स, इलेक्ट्रोड और बायोमैटेरियल्स की स्थानीय सतहों पर विषम गुणों (जैसे, प्रतिक्रियाशीलता, दोष और प्रतिक्रिया साइटों) को समझने के लिए ऐसी जानकारी महत्वपूर्ण है।

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