A subscription to JoVE is required to view this content.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Magnetisk kraftmikroskopi (MFM) anvender en lodret magnetiseret atomkraftmikroskopisonde til måling af prøvetopografi og lokal magnetfeltstyrke med nanoskalaopløsning. Optimering af MFM's rumlige opløsning og følsomhed kræver afbalancering af faldende løftehøjde mod stigende drevamplitude (oscillation) og drager fordel af at arbejde i et handskerum i inaktiv atmosfære.
