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原子探针层析成像研究在Cu（铟，镓）硒<sub> 2</sub>晶界

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Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se₂ Grain Boundaries

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原子探针层析成像研究在Cu（铟，镓）硒<sub> 2</sub>晶界

DOI:

10.3791/50376-v

•

09:51 min

•

April 22, 2013

•

Oana Cojocaru-Mirédin, Torsten Schwarz, Pyuck-Pa Choi, Michael Herbig, Roland Wuerz, Dierk Raabe

¹Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, ²Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Chapters

00:05Title
02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
08:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

在这项工作中，我们描述了使用的原子探针层析成像技术研究中的CIGS型太阳能电池的吸收层的晶粒边界。这里也提出一种新颖的方法来准备包含所需的晶界结构与已知的原子探针提示。

Tags

Atom Probe Tomography Cu(In Ga)Se2 Grain Boundaries Nanoscale Characterization Site-specific Sample Preparation Focused-ion-beam Electron Backscatter Diffraction Transmission Electron Microscopy Thin-film Solar Cells

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