Journal
/
Engineering
/
Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Korrelgrenzen

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min

•

April 22, 2013

•

, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.

Tags

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie

Experimenten op Ultrasoon smeren met behulp van een piëzo-elektrisch ondersteunde Tribometer en optische Profilometer

De meting van Unsteady Surface Pressure Met behulp van een Remote Microphone Probe

probing C<sub> 84</sub> Ingebedde Si-substraat met behulp van Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics

Microfluïdische Imaging Flow Cytometry door Asymmetrische Deteksie Time-stretch Optische Microscopie (ATOM)

In Situ Toezicht op de afbraak van de versnelde prestaties van zonnecellen en Modules: een Case-Study voor Cu (In, Ga) Se2 zonnecellen

Fabricage van magnetische nanostructuren op siliciumnitride membranen voor magnetische Vortex Studies met behulp van Transmission microscopie technieken

Fabricage van robuust Nanoscale contact tussen een zilver Nanowire elektrode en CdS buffer Layer in Cu (in, ga) se2 dunne-film zonnecellen

Visualisatie van falen en het bijbehorende mechanische gedrag op korrel schaal van korrelvormige bodems onder afschuiving met behulp van Synchrotron X-Ray micro-tomografie

Verbetering van de verbrandingsprestaties van een hybride raketmotor met behulp van een nieuwe brandstofkorrel met een geneste spiraalvormige structuur

Read Article