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Em ruptura dielétrica Situ dependentes do tempo no Microscópio Eletrônico de Transmissão
 
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Em ruptura dielétrica Situ dependentes do tempo no Microscópio Eletrônico de Transmissão: A possibilidade de compreender o mecanismo de falha em dispositivos microeletrônicos

Article DOI: 10.3791/52447
June 26th, 2015

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