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유사에 부정적인 얼룩 전자 현미경 검사 법 방법: 시스템에 도전 하는 태 클을 위한 도구
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Variations on Negative Stain Electron Microscopy Methods: Tools for Tackling Challenging Systems
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유사에 부정적인 얼룩 전자 현미경 검사 법 방법: 시스템에 도전 하는 태 클을 위한 도구

DOI:
10.3791/57199-v

•

06:06 min

•

February 06, 2018

•

, , ,
1Astbury Centre for Structural Molecular Biology,University of Leeds, 2Astbury Biostructure Laboratory,University of Leeds

Chapters

  • 00:05Title
  • 00:30Adsorbing Samples to the Carbon Substrate
  • 01:07Staining Using the Side Blot Method
  • 02:25Staining Using the Flicking Method
  • 03:24Staining Using the Rapid Flushing Method
  • 04:12Results: The Ideal Negative Stain for EM is Sample Dependent
  • 05:36Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

부정적인 얼룩 EM 고분자 구조를 시각화를 위한 강력한 기술 이지만 다른 얼룩 기법 샘플 종속 방식에서 다양 한 결과 얻을 수 있습니다. 여기 몇 가지 부정적인 얼룩 방법은 도전 시스템의 시각화를 태 클을 위한 초기 워크플로 제공 하는 자세히 설명 되어 있습니다.

Tags

Negative StainElectron MicroscopyGrid PreparationCarbon SheetGlow DischargeSide BlotFlickingStaining ReagentsSample AdsorptionCapillary ActionAir Drying

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