Здесь мы представляем протокол для эффективного сочетания серийного лица блока и сфокусированного ионного луча, сканирующего электронную микроскопию, чтобы нацелить интересующую область. Это позволяет эффективно искать в трех измерениях и находить редкие события в большом поле зрения.