/
/
От вокселей к знаниям: Практическое руководство по сегментации комплекс электронной микроскопии 3D-данных
This content is Free Access.
Chapters
- 00:05Title
- 02:04Manual Abstracted Model Generation
- 04:47Manual Tracing of Features of Interest
- 08:10Automated Density-based Segmentation
- 09:15Custom-tailored Automated Segmentation
- 09:41Results: Application of Four Segmentation Approaches to Example Data Sets
- 11:29Conclusion
Узким местом для сотовой 3D электронной микроскопии является выделение признаков (сегментация) в очень сложных карт плотности 3D. Мы разработали набор критериев, который обеспечивает руководство в отношении которых сегментация подход (ручной, полуавтоматический или автоматизированная) лучше всего подходит для разных типов данных, обеспечивая тем самым отправной точкой для эффективной сегментации.
Tags
3D Electron MicroscopyUltrastructural OrganizationSegmentationVisualizationQuantificationResin Embedded Stained Electron TomographyFocused Ion Beam- And Serial Block Face- Scanning Electron MicroscopyManual Model BuildingManual TracingSemi-automated ApproachesAutomated Custom-designed Segmentation AlgorithmsSurface RenderingQuantitative AnalysisTriage Scheme
