Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Chemistry

This content is Open Access.

Forberedelse af nanopartikler til ToF-SIMS- og XPS-analyse
 
Click here for the English version

Forberedelse af nanopartikler til ToF-SIMS- og XPS-analyse

Article DOI: 10.3791/61758-v
September 13th, 2020

Chapters

Summary September 13th, 2020

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

En række forskellige procedurer til fremstilling af nanopartikler til overfladeanalyse præsenteres (drop casting, spin coating, deposition fra pulvere og kryofixation). Vi diskuterer udfordringer, muligheder og mulige anvendelser af hver metode, især med hensyn til ændringer i overfladeegenskaber forårsaget af de forskellige forberedelsesmetoder.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter