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MEMS 검사 및 특성화를위한 소형 렌즈가없는 디지털 홀로그램 현미경
Scanning Light Scattering Profiler (SLPS) Based Methodology to Quantitatively Evaluate Forward and Backward Light Scattering from Intraocular Lenses
Journal (Engineering)
Scanning Light Scattering Profiler (SLPS) Based Methodology to Quantitatively Evaluate Forward and Backward Light Scattering from Intraocular Lenses
Making Record-efficiency SnS Solar Cells by Thermal Evaporation and Atomic Layer Deposition
Journal (Engineering)
Making Record-efficiency SnS Solar Cells by Thermal Evaporation and Atomic Layer Deposition
 
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MEMS 검사 및 특성화를위한 소형 렌즈가없는 디지털 홀로그램 현미경

Article DOI: 10.3791/53630-v • 10:28 min • July 5th, 2016
July 5th, 2016 •
1, 1, 1, 2, 1,2
1School of Mechanical and Aerospace Engineering, Center of Laser and Optical Engineering, Nanyang Technological University, 2d'Optron Pte Ltd

Chapters

Summary
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우리는 MEMS 장치의 검사 및 특성화를위한 소형 반사 디지털 홀로 그래픽 시스템 (CDHM)을 제시한다. 자연의 기하학적 배율을​​ 제공 발산 입력 파를 사용하는 렌즈없는 디자인이 설명된다. 모두 정적 및 동적 연구가되게됩니다.

Tags

공학 문제 (113) 디지털 홀로그래피 영상 시스템 양적 위상 측정 현미경 비파괴 시험 MEMS
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