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Preparazione del campione mediante fresatura a fascio ionico focalizzato correlativo 3D per la tomografia crioelettronica ad alta risoluzione
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Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography
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Preparazione del campione mediante fresatura a fascio ionico focalizzato correlativo 3D per la tomografia crioelettronica ad alta risoluzione

DOI:
10.3791/62886-v

•

08:20 min

•

October 25, 2021

•

, , , ,
1Max Planck Institute of Biochemistry, 2Max Planck Institute for Biophysics, 3Fondazione Human Technopole

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:36Cryo-Fluorescence Light Microscopy (Cryo-FLM) of Plunge‐Frozen Grids with Cells
  • 01:51Focused Ion Beam (FIB) Milling
  • 05:47Correlative Transmission Electron Microscopy (TEM)
  • 07:02Results: Visualizing the Endocytic Protein Deposit in the Cell with Cryo‐ET
  • 07:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Qui, presentiamo una pipeline per la fresatura di fasci ionici focalizzati correlativi 3D sulla guida della preparazione di campioni cellulari per la tomografia crioelettronica. La posizione 3D delle proteine di interesse marcate con fluorescenza viene prima determinata mediante microscopia a criofluorescenza e quindi mirata per la fresatura. Il protocollo è adatto per cellule di mammiferi, lieviti e batteri.

Tags

Keywords: 3D-correlative FIB MillingCryo-electron TomographyCryo-fluorescence MicroscopyCryo-FIB-SEMSEM Grid OverviewFLM-SEM CorrelationIon Beam ImagingCellular Ultrastructure

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