Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andra mikroskopier och spektroskopier: Utvalda applikationer inom korrosionskaraktärisering av legeringar

Kelvin sondkraftmikroskopi (KPFM) mäter yttopografi och skillnader i ytpotential, medan svepelektronmikroskopi (SEM) och tillhörande spektroskopier kan belysa ytmorfologi, sammansättning, kristallinitet och kristallografisk orientering. Följaktligen kan samlokaliseringen av SEM med KPFM ge insikt i effekterna av nanoskalans sammansättning och ytstruktur på korrosion.