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Cuantificar datos de fluorescencia de rayos x usando mapas
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Quantifying X-Ray Fluorescence Data Using MAPS
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Cuantificar datos de fluorescencia de rayos x usando mapas

DOI:
10.3791/56042-v

•

14:58 min

•

February 17, 2018

•

, , , , ,
1School for Engineering of Matter, Transport, and Energy,Arizona State University, 2School of Electrical, Computer, and Energy Engineering,Arizona State University, 3Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory

Chapters

  • 00:00Title
  • 03:13Run the Fitting
  • 10:03Run the Fitting
  • 12:05Results
  • 14:02Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Aquí, se demuestra el uso del software de montaje de fluorescencia rayos x, mapas, creado por el Laboratorio Nacional Argonne para la cuantificación de los datos de microscopia de fluorescencia. Los datos cuantificados que resulta están útiles para entender la distribución elemental y relaciones estequiométricas en una muestra de interés.

Tags

X-ray FluorescenceQuantificationMAPSSynchrotronElemental SegregationStoichiometryClusteringAerial MassesIDL SoftwareArgonne National LaboratoryFittingMaps Fit Parameters Override.txtMaps Settings.txtMdaAXO StandardNIST Standard

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