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Die Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM) misst die Oberflächentopographie und Unterschiede im Oberflächenpotential, während die Rasterelektronenmikroskopie (REM) und zugehörige Spektroskopien die Oberflächenmorphologie, Zusammensetzung, Kristallinität und kristallographische Orientierung aufklären können. Dementsprechend kann die Co-Lokalisierung von REM mit KPFM Einblicke in die Auswirkungen der nanoskaligen Zusammensetzung und Oberflächenstruktur auf Korrosion liefern.