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Theoretische Berechnung und experimenteller Nachweis zur Versetzungsreduktion in Germanium-Epitaxieschichten mit semizylindrischen Hohlräumen auf Silizium
 
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Theoretische Berechnung und experimenteller Nachweis zur Versetzungsreduktion in Germanium-Epitaxieschichten mit semizylindrischen Hohlräumen auf Silizium

Article DOI: 10.3791/58897-v 06:57 min July 17th, 2020
July 17th, 2020

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Theoretische Berechnungen und experimentelle Nachweise werden für eine Verringerung der Dichte der Gewindeversetzungen (TD) in Germanium-Epitaxieschichten mit semizylindrischen Hohlräumen auf Silizium vorgeschlagen. Es werden Berechnungen vorgestellt, die auf der Wechselwirkung von TDs und Oberfläche über Bildkraft, TD-Messungen und transmissionselektronenmikroskopische Beobachtungen von TDs basieren.

Tags

Engineering Heft 161 Silizium-Photonik Germanium Ge Kristallzüchtung selektives epitaktisches Wachstum Gewindeversetzungsdichte Bildkraft theoretische Berechnung chemische Gasphasenabscheidung CVD Transmissionselektronenmikroskop TEM
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