एक सब्सट्रेट पर कोशिका आसंजन की टोपोलॉजी चर कोण कुल आंतरिक प्रतिबिंब प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोपी (VA-TIRFM) द्वारा नैनोमीटर परिशुद्धता के साथ मापा जाता है.