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Cryo-Microscopía Electrónica de Preparación de Muestras por medio de un haz de iones focalizados
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Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam
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Cryo-Microscopía Electrónica de Preparación de Muestras por medio de un haz de iones focalizados

DOI:
10.3791/51463-v

•

10:54 min

•

July 26, 2014

•

, , ,
1Department of Engineering Sciences,Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology,Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department,University of Oslo

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:25Sample Freezing
  • 03:21Ion Milling
  • 05:56Cryo Transfer to TEM
  • 08:54Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy
  • 10:20Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Cryo microscopios electrónicos, ya sea de barrido (SEM) o transmisión (TEM), son ampliamente utilizados para la caracterización de las muestras biológicas o de otros materiales con un alto contenido de agua 1. Un SEM / haz de iones focalizados (FIB) se utiliza para identificar las características de interés en muestras y extraer una lámina delgada, transparente-de electrones para la transferencia a un crio-TEM.

Tags

Cryo-electron MicroscopyFocused Ion BeamSpecimen PreparationAspergillus NigerCryo-TEMCryo-SEMLamella ExtractionTEM GridElectron TransparencyCryo-transfer StationNanomanipulatorContamination

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