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Ion Beam ciblée de fraisage et de microscopie électronique à balayage du tissu cérébral
JoVE Journal
Neuroscience
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JoVE Journal Neuroscience
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Automatic Translation

Ce protocole décrit comment le tissu cérébral de résine intégrés peuvent être préparés et imagée dans les trois dimensions dans le faisceau d'ions focalisé, microscope électronique à balayage.

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