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Journal
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Neuroscience
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초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝
JoVE Journal
Neuroscience
This content is Free Access.
JoVE Journal
Neuroscience
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
초점을 맞춘 이온 빔은 밀링 및 뇌 조직의 전자 현미경을 스캐닝
DOI:
10.3791/2588-v
•
08:57 min
•
July 06, 2011
•
Graham Knott
,
Stéphanie Rosset
,
Marco Cantoni
1
Centre of interdisciplinary electron microscopy
,
École Polytechnique Fédérale de Lausanne
Chapters
00:05
Title
01:29
Sample Fixation and Resin Embedding
04:00
Preparing the Sample for the FIB/SEM
05:55
Imaging the FIB/SEM
08:03
Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
08:40
Conclusion
Summary
Automatic Translation
English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
português (Portuguese)
русский (Russian)
español (Spanish)
Türkçe (Turkish)
Automatic Translation
이 프로토콜은 수지 내장 뇌 조직은 전자 현미경을 스캐닝, 초점을 맞춘 이온 빔의 3 차원에 준비하고 몇 군데 수있는 방법에 대해 설명합니다.
Tags
Focussed Ion Beam Milling
Scanning Electron Microscopy
FIB/SEM Protocol
Aldehydes Fixation
Heavy Metal Staining
Osmium Tetroxide
Uranyl Acetate
Dehydration
Resin Infiltration
Ultramicrotome
Glass Knives
Block Preparation
Vertical Face Milling
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Isotropic Voxels
Cell Ultrastructure Analysis
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