A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:05Title
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
هبوط ناعم أيونات مختارة الشامل على السطوح هو نهج قوية لإعداد رقابة شديدة من المواد الجديدة. إلى جانب تحليل الوضع الطبيعي الثانوية مطياف الكتلة ايون (سيمز) والأشعة تحت الحمراء امتصاص انعكاس التحليل الطيفي (IRRAS) في، يوفر هبوط ناعم رؤى غير مسبوقة في تفاعلات الأنواع محددة جيدا مع الأسطح.
